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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數(shù)測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統(tǒng)、熱刺激電流測量系統(tǒng)
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高低頻介電常數(shù)分析儀

高低頻介電常數(shù)分析儀

  • 產(chǎn)品型號:GCSTD-D
  • 更新時間:2024-11-30
  • 產(chǎn)品介紹:GCSTD-D高低頻介電常數(shù)分析儀滿足標準:
    GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
    GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法
    ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產(chǎn)品介紹

半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料:半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性


測試電橋參數(shù) 

測試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz~2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) 

f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本準確度 0.1% 

 L 0.0001 uH ~ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ~ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ 


公司以精美的產(chǎn)品、精良的品質、精心的服務贏得了廣大用戶和市場,擁有一大批國內外科研院所及企業(yè)用戶。


服務:具有完備的售后服務體系


技術:自主研發(fā)+高校實驗室聯(lián)合開發(fā)


品質:對產(chǎn)品的精益追求+嚴格規(guī)范的測試


價格:科學的管理成本+高效率合作降低成本


客戶:大中院校+科研機構+質檢部門+實驗室等

GCSTD-D高低頻介電常數(shù)分析儀

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)

電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能

V、1測試信號電平監(jiān)視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存/讀取

GCSTD-D高低頻介電常數(shù)分析儀








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